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產(chǎn)品中心

Product Center

Semiconductor discrete device 半導體分立器件試驗設備 Passive component test equipment 被動元件試驗設備 Monitoring system 設備集中監(jiān)視系統(tǒng) Internet of things platform 物聯(lián)網(wǎng)平臺 test equipment 試驗設備

半導體分立器件試驗設備

內(nèi)容建設中......

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高加速溫濕度應力試驗系統(tǒng)

系統(tǒng)能滿足各種封裝形式的Si/SiC/GaN 材料的 IGBT/ DIODE/MOSFET/HEMT/BJT/SCR 等器件的HAST試驗。

存儲器高溫動態(tài)老化測試系統(tǒng)

系統(tǒng)適用于各種封裝形式的SRAM，DRAM，SDRAM ，F(xiàn)LASH，DDR，RDRAM等器件進行高溫動態(tài)老化篩選，并且在老化過程中對被試驗器件(DUT)進行功能測試(TDBI)。

三端穩(wěn)壓器老化系統(tǒng)

系統(tǒng)能滿足各種封裝形式（包括SMD表面貼裝）的78XX、79XX、117、137、200等系列固定、可調(diào)三端穩(wěn)壓器老化篩選和壽命試驗。

穩(wěn)壓管 SSOP 試驗系統(tǒng)

系統(tǒng)適用于各種封裝的穩(wěn)壓管（Zener）進行穩(wěn)態(tài)運行功率（SSOP）試驗。

大功率晶體管老化系統(tǒng)

適用于F型、TO-3P/TO220、G型封裝的大功率三極管、MOS管等進行功率老化試驗。

電源模塊高溫老化試驗系統(tǒng)

適用于各種中小功率單路、多路正負輸出的DC/DC、AC/DC電源模塊進行高溫恒流老化試驗。

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